在双焦成像模式下进行三维粒子跟踪

粒子的三维跟踪在精确测定Z轴位置方面带来了新的挑战。作为时间的函数,通常它需要使用昂贵的扫描设备在不同的焦面中采集多幅图像。由此而获得的Z堆栈将包含通常可从中提取跟踪信息的四维数据集(x、y、z、t)。采集Z堆栈比较耗时,并且会降低数据的时间分辨率。

这项采用 Dual View(双重显示) 的技术由伊利诺伊大学厄本那—香槟分校的Paul Selvin团队最先推出,该技术通过使用同时双焦成像(无运动部件)而使测量大为简化。

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